高功率訊號產生器

WSDU-1X16P HTOL 功率放大器 (16CH, 20~3000 MHz)

WSDU-1X16P 為 16 通道高溫操作壽命測試（HTOL）專用的射頻（RF）量測系統，支援 20 MHz 至 3000 MHz 頻率範圍，具備每通道最高 5 瓦特輸出功率，模組化設計便於更換維修，適用於無線前端元件之壽命與可靠度驗證，支援研發與品保用途。

詳細介紹

WSDU-1X16P HTOL 射頻量測系統

16 通道 5W 輸出 × 20–3000 MHz 寬頻段，模組化架構優化 HTOL 射頻壽命與可靠度測試效率

高溫操作壽命測試（HTOL，High-temperature Operating Life Time）是一種高強度的壓力測試，用於模擬產品老化並加速熱致故障機制的產生，在 HTOL 測試期間，大量的待測物（DUT）會在極高溫與絕對最大額定條件下進行測試，該測試通常於 125°C 環境下進行；詳細內容可參考 JEDEC 標準 JESD22-A108。

功率壓力測試與 HTOL 測試需要射頻系統同時具備多通道、高輸出功率與高精度特性，WSDU-1X16P 是一款小型化 HTOL 射頻量測系統，適用於 20 MHz 至 3000 MHz 頻率範圍，採用 50 ohms 技術；本系統具備 16 個射頻通道，每通道最高輸出功率為 5 瓦特，實際進入待測物的功率為 2.5 瓦特，所有通道可透過單一低功率射頻輸入進行供電，具備高度整合性與空間效率。