高溫壽命測試

TSQA-RFLD80 自動化實效功率射頻功率分析系統 (1~8000 MHz, 3W/ch)

TSQA-RFLD80 自動化實效功率射頻功率分析系統 (1~8000 MHz, 3W/ch)

TSQA-RFLD80 提供多達 80 通道、每通道 3W 的射頻實效功率量測能力,支援 HTOL 壽命測試與遠端控制,自動化比對 DUT 功率容忍範圍。
  • TSQA-RFLD80-front.jpg
  • TSQA-RFLD80-inner.png
詳細介紹

TSQA-RFLD80 自動化實效功率射頻功率分析系統

80 通道 × 3W 功率 × 1~8000 MHz 頻段
實現 HTOL 測試與 RF 壽命模擬全自動化控制

 

TSQA-RFLD80 系統為一款高效能、多通道的實效功率射頻量測解決方案,可擴充整合 Becker 所推出之 WSDU-1X80P(L) 多通道射頻訊號源,構建完整的自動化高溫操作壽命測試(HTOL)系統;透過精確的功率控制多通道監測能力,TSQA-RFLD80 特別適用於模擬電子元件的壽命行為,如 聲表面波濾波器(SAW Filter射頻半導體等,亦能廣泛應用於多通道 RF 元件驗證可靠度測試場景。
 

產品特點

  • 支援多達 80 通道的實效功率量測(1~8000 MHz)
  • 每通道最大 3 W 功率輸出能力
  • 遠端控制介面(ASCII 指令與 GUI 圖形化操作)
  • 整合訊號產生器控制功能,自動化產生測試頻率與功率
  • 內建歸一化處理 (Normalize) 插入損耗校正功能,提升 DUT 比對準確性
  • 自動化測試序列設定(最多 5 項頻率容差組合)
  • 測試期間與結束條件可程式化設定
  • 異常記錄功能附時間戳記,確保測試紀錄完整

 

測試應用

  • SAW 濾波器(SAW Filter)壽命模擬與耐久性測試
  • RF 半導體元件加速老化驗證
  • 高溫操作壽命測試(HTOL)平台自動化整合
  • 多通道 RF 測試驗證與故障偵測
  • 量產階段之元件功率容忍範圍監控與記錄
  • 實驗室與研發單位的 RF 自動測試系統建置


 
 

多通道量測能力

TSQA-RFLD80 支援至多 80 通道 同步 RF 功率分析,每通道最高支援 3 W RF 輸出功率,系統可透過 ASCII 命令或圖形化介面 (GUI) 進行遠端控制,並內建對公用 RF 訊號源的控制功能,支援自動化訊號分配。
 

高精度功率管理功能

TSQA-RFLD80 軟體提供多項進階功能,包括 設定 RF 多訊號源的輸出功率,並對各待測物插入損耗進行校正 (Normalize),確保各通道訊號一致性與量測精度。
 

自動化測試序列設定

軟體可設定最多 5 種測試頻率與相應功率容護範圍,延伸成為自動化測試序列,系統將週期性監控所有選定通道的量測值,並自動偵測是否超出容護範圍;當任何 DUT 發生異常時,系統將自動記錄故障通道並加上時間戳記錄;並可設定整體測試期間,當時間完成後系統將自動結束測試。
 

系統效益

TSQA-RFLD80 系統能夠夠效節省測試時間,降低錯誤率,並提升數據透明度,是進行壽命模擬、可靠度驗證與多通道 RF 量測之理想解決方案。
 

架構原理圖

TSQA-RFLD80 模組可整合至既有 WSDU 分配系統,透過控制器遠端管理多通道功率量測與測試序列,自動執行高達 80 通道之實效功率分析,適用 HTOL 等壽命模擬應用。



 

產品服務

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