TSQA-16XMF 高精度高動態射頻系統
高溫壽命極限，精密射頻控制 — HTOL 測試定義新標準
高溫操作壽命測試（High Temperature Operating Life Test，HTOL）是一項強度極高的應力測試，用以模擬元件老化現象並加速熱致失效機制；HTOL 測試會讓大量待測物（DUT）暴露於極端溫度與絕對峰值效能條件下，通常在 125°C 下進行，並依據 JEDEC JESD22-A108 規範執行。
TSQA-16XMF 將 16 個通道整合於小型化裝置中，能同時對 16 個處於活動狀態的待測物執行 HTOL 測試程序，並同時監控其功能狀態；為執行功率應力測試與 HTOL 測試，必須配備具備多輸出通道之射頻系統，確保在長時間運作下仍能維持精準且穩定的輸出功率；TSQA-16XMF 系統正是此類應用的理想選擇，其涵蓋頻率範圍為 300 MHz 至 8500 MHz，採用 50-ohms 技術，具備此能力使其能有效對應當前最先進的射頻通訊標準，並搭配先進設備進行測試。
產品特點
- 提供 16 個獨立射頻通道，支援同時多組待測物操作
- 採用小型化 19 吋 1U 設計，節省機架空間
- 支援寬頻操作，涵蓋 300 MHz 至 8500 MHz 頻段
- 具備高動態範圍，適用於各類複雜射頻應用情境
- 擁有高輸出準確度與長期穩定性，確保量測一致性
- 搭載 LAN 遠端控制介面，支援集中管理與程式化操作
- 內建連續波（CW）與脈衝（Pulse）訊號源，提升測試彈性
- 相容向量訊號源（Vector Signal Sources），滿足進階通訊測試需求
應用領域
- 射頻元件效能與可靠度的認證驗證
- 產品量產前後之品質保證與一致性測試
- 用於射頻通訊技術之研究與開發（R&D）
原理方塊圖
待測物（DUT）射頻介面
TSQA-16XMF 提供 16 組對應待測物的射頻輸出與量測通道，系統配置 16 組接收端（RX）與 16 組發送端（TX）埠，使用 SMA 母頭連接器，連接埠可根據實際需求安裝於裝置的右側或左側。
高埠間隔離度
HTOL 系統對於射頻輸出埠之間的隔離度要求極高，以防止測試過程中個別待測物故障導致整體測試準確性受影響；TSQA-16XMF 提供優異的埠對埠隔離能力，有效降低 DUT 之間的相互干擾風險。
高精度射頻輸出等級
每一輸出通道皆具備極高準確度的射頻輸出能力，內建閉迴路等級控制（ALC）機制，使輸出階梯變化幾乎不可察覺；該設計確保所有 16 組通道維持對稱輸出與長時間穩定性，同時具備平滑的控制響應，避免產生過衝現象。
內建脈衝訊號源
除支援連續波（CW）模式外，TSQA-16XMF 亦內建脈衝（Pulse）訊號源，並可透過 LAN 遠端介面進行靈活控制，提升測試模式彈性與可程式化整合能力。
諧波抑制能力
HTOL 測試需將射頻能量集中於基頻訊號，以避免過多諧波對待測物產生不必要的應力；TSQA-16XMF 採用可調式諧波濾波器（Adaptive Harmonic Filter），有效抑制高階諧波成分，確保量測條件穩定且符合標準。
遠端控制功能
TSQA-16XMF 支援透過中央 LAN 介面進行遠端操作，使用者可依測試需求設定頻率、射頻輸出等級、CW 或 Pulse 模式，並透過 SCPI 架構之 ASCII 指令快速存取與監控系統狀態，實現高效率、低干預的自動化測試流程。
TX 準確度（典型值）
RX 準確度（典型值）
外觀圖示
前視圖
後視圖
側視圖（RF 連接器位於左側的變體）
TX 規格
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