SBIR 光電系統雷射性能特性化測試方案

從關鍵參數驗證到性能極限洞悉，全方位雷射特性化

Santa Barbara Infrared, Inc. (SBIR) 提供廣泛的測試系統與組件系列，用於精確測試與特性化雷射測距儀 (Laser Range Finders)、標定器 (Designators)、照明器 (Illuminators) 及標點追蹤器 (Spot Trackers) 的效能；此解決方案旨在滿足從實驗室研發到產線測試的多元需求，確保光電系統的性能符合嚴格標準；以下為 SBIR 核心模組：
 

• 雷射測距儀測試模組 (LRTM)：
  專為雷射測距儀與雷射接收器設計，用於執行測距精度和接收器靈敏度等關鍵測試；透過整合多種雷射二極體與精密時序控制，實現高精度動態距離模擬。
• 同軸校準模組 (BAM)：
  核心功能在於實現多個成像系統之間，以及成像系統與雷射發射器之間的高精度共軸校準；運用自動準直技術與質心定位演算法，精確量測視軸偏移，亦可支援光束發散角量測。
• 時域能量模組 (TEM)：
  提供一套專業、可靠的解決方案，用於對各式雷射發射器進行精確的能量與脈衝特性診斷；整合高速偵測器與熱釋電能量偵測器，全面量測脈衝能量、寬度、週期與振幅。
• 脈衝雷射二極體目標投影器 (PLD)：
  設計重點在於提供精確產生 1064 nm 的均勻準直脈衝雷射輸出；適用於雷射接收器/探測器測試及雷射導引飛彈四象限探測器的精密對準作業。
• 多光譜源 (MSS)：
  運用積分球技術的輸出光源，整合延伸區域黑體與脈衝雷射光源 (1.06 µm, 1.57 µm)；專門用於同步進行瞄準軸校準與影像解析度測試，特別適用於距離閘控相機的測試。

系列產品特性

脈衝雷射二極體目標投影器
Pulsed Laser Diode Target Projector

此系統提供精確的 1064 nm 均勻準直脈衝雷射輸出，主要由牛頓式準直儀、雷射光源/控制器及光纖/針孔目標組件構成；支援手動與乙太網路遠端控制。

• 脈衝重複頻率 (PRF) 範圍：20 至 12,500 Hz (穩定性 +/- 0.005%)；
• 脈衝寬度 (Pulse Width)：20 +/- 10 ns；
• 脈衝間穩定性 (Pulse to Pulse Stability)：+/- 2%；
• 可變校準輻照度 (Variable Calibrated Irradiance)；
• 多種觸發模式：內部（自由運行）、外部觸發（啟動雷射觸發）自由運行、外部觸發脈衝間觸發；
• 準直儀輸出均勻性：在 4 英吋直徑中心區域內達 ±10% (相對於功率設定值)；
• 應用：雷射接收器/探測器測試、雷射導引系統四象限探測器對準、目標模擬。

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多光譜源
Multi-Spectral Source, MSS

運用積分球整合黑體與 1.06 µm / 1.57 µm 脈衝雷射，專為距離閘控相機之同步瞄準軸校準與影像解析度測試設計；採用 iProbe 智慧探棒技術確保高精度溫度控制。

• 整合式黑體光源：絕對溫度模式 10°C 至 60°C；差動溫度模式 -15°C 至 +35°C ΔT；
• 黑體系統不確定性：± 0.01°C 或設定溫差的 ± 0.1% (取較大值)；
• 同步脈衝雷射模擬距離：可調範圍 100 公尺 至 100,000 公尺；
• 脈衝寬度可調 (Adjustable Pulse Width)：20 ns 至 500 ns；
• 脈衝輸出能量可調：0.4 nJ/cm²/sr 至 85 nJ/cm²/sr；
• 重複頻率：自由運行模式下 1 Hz 至 1000 Hz；
• 整合能力：可輕易與目標輪、準直儀、光源選擇平台等其他 SBIR 產品整合。

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雷射測距測試模組
Laser Range Test Module, LRTM

專為雷射測距儀與接收器測試設計，整合 1064 nm、1540 nm 與 1570 nm 雷射二極體與光纖網路，產生精確動態的脈衝雷射輸出。

• 光源波長：1064 nm、1540 nm 及 1570 nm；
• 動態模擬距離：50 公尺 至 60,000 公尺；
• 模擬距離精度：+/- 1.5 公尺 或 0.01% (以較大者為準)；
• 功率動態範圍：> 40 dB；
• 操作模式：支援連續脈衝模式、電氣觸發模式、光學觸發模式；
• 首/末脈衝控制：可模擬受遮蔽環境下的測距情境；
• 內建對準輔助：配備參考平面鏡與紅外線/可見光目標，利用自動準直技術易於與待測物 (UUT) 對準。

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時域能量模組
Temporal Energy Module, TEM

整合高速偵測器 (達 1 GHz 頻寬 InGaAs) 與熱釋電能量偵測器，用於精確診斷雷射的能量與時間特性。

• 光譜頻寬 (Spectral Bandwidth)：900 nm – 1700 nm；
• 最大能量密度 (Maximum Fluence)：10 mJ/cm² @ 10 ns；
• 可偵測能量範圍：3 µJ 至 7 mJ (可透過 ND 濾光片擴展)；
• 可處理光束直徑 (Handles Beam Diameters)：最大達 5 英吋；
• 高速脈衝波形擷取：採用 4 GS/s 取樣率數位轉換器；
• 量測參數：脈衝能量、脈衝寬度、脈衝週期、脈衝振幅；
• 連續脈衝分析：搭配 IRWindows™ 軟體可分析多達 2,048 個連續脈衝。

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同軸校準模組
Boresight Alignment Module, BAM

實現多個成像系統及成像系統與雷射發射器間的高精度共軸校準，整合固定式矽 (Silicon) 或 InGaAs 相機。

• 模組類型：提供整合準直儀的標準型與適用開放式光學平台的類型；
• 相機選項：標準 SWIR 相機 (850 nm - 2000 nm) 或選配矽基相機 (0.4 - 1.06 µm)；
• 雷射質心定位：運用 12 位元數位化處理與 IRWindows™5 軟體之質心定位演算法；
• 雷射質心定位解析度：1/4 IFOV (約當 4.2 µrad)；
• TPS 對視軸目標校準精度：徑向誤差 25 µrad 以內；
• 光束發散角量測：範圍 80 µrad 至 2500 µrad (精度 ±10% 或 ±12 µrad)；
• 自動化校準：整合 IRWindows™5 實現自動化校準流程。

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為您的雷射系統選擇最佳測試方案

SBIR一系列模組化、高精度的雷射測試解決方案，滿足您對雷射測距儀、標定器、照明器及標點追蹤器等光電系統最嚴苛的性能驗證需求；無論是需要精確的距離模擬 (LRTM)、多軸對準 (BAM)、脈衝能量與時間特性分析 (TEM)、標準雷射源輸出 (PLD)，或是整合黑體與雷射的同步測試 (MSS)，都能提供對應的專業儀器與系統整合能力。

若您有客製化需求或需要進一步的技術諮詢，歡迎隨時聯繫奧創系統的專家團隊，我們將竭誠為您提供專業建議與支援，共同打造最優化的雷射測試系統。
 

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