J7000B 抖動雜訊產生器
精準控制抖動，提升訊號完整性
J7000B 抖動雜訊產生器能夠產生白高斯雜訊（AWGN），並具備高峰均因子（Crest Factor），用於模擬現實環境中的隨機抖動（Rj），在高速通訊設備中，Rj 的管理對於系統效能至關重要，因此精確控制抖動是確保穩定訊號傳輸的關鍵。
解決高速數位電路設計的抖動挑戰
現今的數位電路設計師面臨狹窄的抖動允許範圍，需要在高資料速率下確保低位元錯誤率（BER），然而，隨著頻率和資料速率的提升，這項挑戰變得更加困難；J7000B 讓設計人員能夠直接將 Rj 加入資料流，以評估設備效能，並使用常見的測試工具如：示波器 或 位元錯誤率測試儀（BERT）來量測結果。
透過精確控制白雜訊的加入量，可分析雜訊比（SNR）的變化，進一步評估接收器的效能，確保整體設計的時間預算與抖動允許範圍最小化，以實現更高的資料傳輸速率。
適用於多種高速通訊測試
J7000B 具備強大的隨機雜訊（Rj）輸出能力，適用於單線（Single-Ended）或差分串列設備的測試與驗證。
- PAM-4 訊號測試：
可配置為處理多組差分訊號輸入與輸出，並能個別控制每組訊號。 - 接收器靈敏度測試：
可施加雜訊至 PC 測試板，模擬實際環境中的PCB 串擾（Cross Talk），評估設備的耐受能力。
此外，J7000B 提供多種標準頻率範圍，也可依需求客製化頻率、功率與平坦度，確保測試設備能完全符合業界標準，亦可根據新設計、或抖動容限測試需求進行調校與優化，滿足不同應用場景。
直覺式操作與遠端控制，提升測試效率
J7000B 內建 7 吋觸控螢幕，簡單直覺的操作介面可快速調整：
- 雜訊等級
- 雜訊開/關
- 訊號開/關
- 雜訊源選擇
此外，J7000B 支援乙太網路（Ethernet）與選配的 GPIB 介面，可透過遠端控制方式整合至自動化測試站，大幅縮短生產測試時間，提高測試效率。
J7000B 是高速通訊設備測試的理想工具，無論是開發、驗證或生產測試，都能提供精準的雜訊控制與抖動測試能力，確保訊號完整性與系統穩定性。
一般規格
- 輸出雜訊類型：白高斯雜訊（WGN）
- 最小峰均因子（Crest Factor）：18 dB
- 輸出雜訊功率：-3 dBm（±0.5 dBm）
- 雜訊衰減範圍：0 至 63 dB，步進 0.1 dB（最高 2 GHz）
- 雜訊衰減器精度：±0.2 dB 或 0.5%
- 訊號通道增益：0 dB（±1 dB）
- 超低失真訊號通道
- 標準連接器：SMA 母頭
- 顯示介面：7 吋觸控螢幕
- 尺寸：
- 寬度：17.22 英吋
- 高度（含腳座）：6.30 英吋
- 深度：19.5 英吋
- 腳座：可折疊，適用於桌上使用
- 電源供應：115 VAC，60 Hz
- 操作溫度範圍：-10°C 至 +65°C
- 支援：
- 差分輸入與輸出
- 多組差分輸入與輸出
應用領域
- Rj 隨機抖動訊號源（Random Jitter Source）
- 串列資料測試（Serial Data Testing）
- BER 及抖動測試（BER, Jitter Testing）
- PCI Express、100 GigE、SATA
- PAM-4 訊號測試
- PCB 串擾測試（PC Board Cross Talk）
規格
選配
