HA7062D 即時相位雜訊分析儀(26GHz/40 GHz)
即時交叉關聯運算與全頻寬資料擷取
焦點特色
- DUT(待測設備)輸入範圍:10 MHz 至 26 GHz(可選擇擴展至 40 GHz)
- 量測頻寬:0.1 Hz 至 100 MHz 偏移
- 量測項目:獨立的調幅(AM)/ 調相(PM)、基頻(Baseband)、雜散(Spurious)、抖動(Jitter)
- 自動化絕對與相對(殘餘)量測
- 即時多重相關運算(Real Time Cross Correlation)
- 卓越的準確性 - 具備高精度的量測能力,確保資料的可靠性,滿足最嚴苛的測試需求。
- 極高的可靠性 - 採用穩定的硬體設計與優化演算法,確保長時間運行下仍能維持最佳效能。
- 極致可配置性 - 提供靈活的測試參數設定,可根據不同應用需求進行自訂調整。
- 高速、即時雙 FFT 引擎提供極速量測
- 內建 浩茲沃 (Holzworth) HSX 合成器核心作為內部本地振盪器(LO)
- 兩組通用連續波訊號源
- 全屏蔽、無風扇的緊湊型 1U 機箱
- 獨特的可重構性,使其能夠量測實際儀器底層雜訊,以確保最高的量測信心。
HA7062D 產品概述
HA7062D 即時相位雜訊分析儀具備卓越的準確性、極高的可靠性及極致的可配置性,憑藉高效能即時雙 FFT 引擎,該儀器提供極快的量測速度,可大幅縮短產品開發時間並優化自動測試設備(ATE)的製造效率。
其全屏蔽、無風扇的 1U 小型化型機箱可消除地迴路與機械震動(microphonics)干擾,以確保無與倫比的量測效能與可重複性。
可配置的前端設計獨特,使用者能夠量測分析儀的底層雜訊,以獲得最高的量測信心;該儀器內建 浩茲沃 (Holzworth) HSX 合成器核心作為內部本地振盪器(LO),同時可作為通用型連續波(CW)訊號源,並可透過前面板 LO 輸出端口提供訊號。
架構圖
下列外部同軸電纜可移除,並透過可重構的前端設計,使用者能夠根據特定量測需求靈活調整分析儀。
底層雜訊量測 – 設定
HA7062D 採用獨特的架構與靈活的可配置設計,使用者能夠直接存取關鍵內部模組,以量測分析儀在特定頻率(最高可達 6 GHz)的實際底層雜訊;相較於傳統方法僅根據最小頻率偏移與交叉相關次數來推算雜訊值,HA7062D 提供更高的量測可信度,確保測量結果更準確可靠。
與 浩茲沃 (Holzworth) 其他產品一樣,市面上的競爭性相位雜訊分析儀通常會提供交叉相關可靠性指標(Cross Correlation Confidence Factor),但這其實只是基於當前量測資料的近似值,並不代表系統的真實底層雜訊;換句話說,這種方法僅提供一種估算,而非直接量測分析儀自身的雜訊表現。
為了精確量測底層雜訊,HA7062D 採用特殊的內部架構,允許繞過內部功率分配器(Power Splitter),使用者能夠直接存取各通道的相位檢測器(混頻器, Mixer);這樣一來,便可在目標頻率下測試來自兩個不相關頻率源的相位雜訊,進而獲得更真實、可靠的資料,請參考下圖了解具體配置。
底層雜訊量測 – 實例
HA7062D 在五個不同頻率(10 MHz、100 MHz、1 GHz、3 GHz 和 6 GHz)範圍內的底層雜訊量測結果,每個圖表包含 1x、10x 及 100x 交叉相關量測的實際資料。
值得注意的是,由於每台分析儀的底層相位雜訊略有不同,因此能夠量測分析儀的真實底層雜訊至關重要;此外,透過增加交叉相關次數,可進一步改善底層雜訊表現。
這個實例的所有量測資料均使用最小頻率偏移 1 Hz,資料解析度為每十倍頻程 256 點,量測資料的採集時間如下:
- 1 次交叉相關(1 correlation):4.3 秒
- 10 次交叉相關(10 correlations):43 秒
- 100 次交叉相關(100 correlations):7 分 9 秒
備註:若將最小頻率偏移提高,或降低資料解析度設定,則可進一步提升量測速度。

圖示:10MHz 雜訊底限量測

圖示:100MHz 雜訊底限量測

圖示:1GHz 雜訊底限量測

圖示:3GHz 雜訊底限量測

圖示:6GHz 雜訊底限量測
HA7062C 技術規格