HA7062C 相位雜訊分析儀（6GHz）
即時交叉關聯運算與全頻寬資料擷取
焦點特色
- 頻率範圍：10MHz 至 6GHz
- 頻寬範圍：0.1Hz 至 40MHz
- 即時資料擷取
- 多功能可重構前端
- 支援相位調變（PM）、振幅調變（AM）、基頻（Baseband）、雜散（Spurious）、抖動（Jitter）分析
- 獨立 AM/PM 量測，提供更精確的結果
- 自動化殘餘雜訊量測，提升測試效率
- 可量測超低相位底層雜訊（Phase Noise Floors），確保卓越性能
- 3 年原廠保固，品質有保障
HA7062C 產品概述
HA7062C 即時相位雜訊分析儀延續 浩茲沃 (Holzworth) 長期領先業界的技術，具備高精確度、高可靠性、自動化及靈活性；即時量測引擎涵蓋完整測試頻寬，提供極速量測效能，大幅縮短產品開發時間，並最佳化 ATE（自動化測試設備）製造效率。
可量測的底層雜訊
市場上的相位雜訊分析儀通常提供量測可靠度指標（Confidence Factor），作為測試結果的統計置信度，但這並不代表儀器的實際底層雜訊（Noise Floor）；許多使用者誤以為較高的信心係數就代表更低的底層雜訊，然而，這僅是基於統計估算，而非實際量測結果。
相較之下，浩茲沃 (Holzworth) HA7062C 採用獨特架構，允許直接存取測試核心，真正量測分析儀的最低可測雜訊，而非僅依賴推算值，確保更精確且可重現的測試結果。
卓越的類比性能
HA7062C 以高效能、即時雙 FFT 引擎為核心，但真正決定測試效能的關鍵在於類比前端設計，該類比前端內建 浩茲沃 (Holzworth) HSX 系列 RF 合成器（RF Synthesizers） 作為內部本地振盪器（LO），不僅與即時 FFT 核心緊密協作，提供業界領先的相位雜訊量測能力，更可作為高穩定度 CW（連續波）訊號源，直接輸出至前面板的 LO 輸出端，以滿足更廣泛的測試需求。
可重複的測試資料
浩茲沃 (Holzworth) 採用全屏蔽無風扇 1U 機箱，有效消除地迴路（Ground Loops）與微音效應（Microphonics），確保測試資料的穩定性與重現性。浩茲沃 (Holzworth) 鼓勵使用者與其他品牌儀器進行實測對比，親自驗證其優越性能。
架構圖
HA7062C 是 浩茲沃 (Holzworth) 超過 10 年技術積累的成果，融合使用者反饋與自身製造經驗，最終不僅提升了準確性、可靠性與量測速度，更透過可重構前端（Reconfigurable Front End）讓使用者能夠靈活配置測試需求。
底層雜訊量測設定
HA7062C 的獨特架構允許使用者直接存取內部關鍵模組，以量測任意頻率下的儀器底層雜訊，並可依據 最小頻率偏移及 交叉關聯次數（Correlations） 進行深入分析。
市場上其他相位雜訊分析儀雖提供 交叉關聯可靠度係數（Cross-Correlation Confidence Factor），但此係數僅是基於當前資料的統計估算值，並非儀器的實際底層雜訊，因此可能導致誤解。
底層雜訊量測方法
- 繞過內部功率分配器，直接存取各通道的相位檢測器（Phase Detector，Mixer）。
- 使用兩個互不相關的頻率源，在目標頻率下進行測試。
- 參考下圖 以進一步瞭解詳細的測試設定。
底層雜訊資料
HA7062C 在 五個不同頻率（10MHz、100MHz、1GHz、3GHz、6GHz） 下的底層雜訊量測結果。
- 每組圖表包含 1x、10x、100x 交叉關聯量測資料，顯示單一儀器的實測底層雜訊。
- 不同設備之間可能存在測試結果的差異，因此能夠量測真實底層雜訊至關重要。
- 若需進一步提升底層雜訊量測精度，可透過增加交叉關聯次數。
量測條件
- 最小頻率偏移：1Hz
- 資料解析度：256 點 / 十倍頻程（Points Per Decade）
資料擷取時間
- **1 次交叉關聯（1x）：**4.3 秒
- **10 次交叉關聯（10x）：**43 秒
- **100 次交叉關聯（100x）：**7 分 9 秒
備註：提高 最小頻率偏移 或降低 資料解析度 可提升量測速度。
圖示：10MHz 底層雜訊量測
圖示：100MHz 底層雜訊量測
圖示：1GHz 底層雜訊量測
圖示：3GHz 底層雜訊量測
圖示：6GHz 底層雜訊量測
HA7062C 技術規格
