高溫壽命測試
元件高溫壽命測試 - HTOL
元件高溫壽命測試 - HTOL
根據特定的客戶要求定制 HTOL RF 測試系統，通道數量可超過 200 個。
詳細介紹
介紹 :
提供業界領先的完整解決方案。整合測試架使用多個射頻頻率運行完整的測試週期，無需操作員操心。允許根據特定的客戶要求定制 HTOL RF 測試系統，通道數量可超過 200 個。所有被測設備 (DUT) 都會受到高功率、單獨控制的精確射頻訊號的影響。
特色 :
• 減少研發和使用者測試的工作量
整合的網路伺服器允許配置和控制系統，無需客戶端進行任何軟體開發工作。對 DUT 進行連續自動監控，避免因間歇性檢查而
中斷測試週期。無需進入實驗室即可從遠端辦公室監控測試狀態。測試週期可解決典型問題，例如 DUT 自升溫以及在 DUT 發生
故障時全自動關閉壓力。
• 提供更高品質和更高數量的統計數據
有關 DUT 狀態的資訊會依照使用者事先定義的時間間隔收集，以便測試後的分析可以找到故障的早期指標和準確的故障時間。
對 DUT 施加的應力水平進行全閉環控制，消除了故障 DUT 對健康 DUT 的任何影響（高隔離），並消除了溫度漂移的影響。
• 簡化纜線和連接器的維護和調試
具有大量 DUT 的 HTOL RF 設定中的典型問題與纜線和連接器的磨損或錯誤應用有關。圖形使用者介面允許分析系統的整體狀況
並快速識別損壞的纜線或遺失的連接。
即使網路連接或控制 PC 被移除，測試也將繼續正確運作。當連接和控制 PC 重新建立時，可以在稍後階段檢索測試結果。
該系統包括定期的自我完整性檢查，以提醒使用者任何違規行為/保證。