高溫壽命測試

  • MORE
    TSQA-16XMF-front.png

    TSQA-16XMF HTOL 射頻系統 (16CH, 300 ~ 8500 MHz)

    TSQA-16XMF 支援 16 通道 HTOL 高溫壽命測試,涵蓋 300~8500 MHz 寬頻段,具備高輸出精度、自動等級控制、諧波抑制與高埠間隔離,適用射頻元件驗證、研發與自動化測試。
  • MORE
    TSQA-80PMF-front-1x1.png

    TSQA-80PMF HTOL 射頻系統 (80 Ch, 1700 ~ 9800 MHz)

    TSQA-80PMF 提供 80通道 RF 輸出與量測,支援 1700~9800 MHz 頻段,具備動態諧波抑制濾波器、自動化測試程序與高隔離度埠間設計,最適用於高溫壽命 HTOL 測試、5G與Wi-Fi 6E元件驗證。
  • MORE
    1652451693_1674__17.jpg

    TSQA-1X8PMF HTOL 射頻子系統 (8CH, 1700~9800 MHz)

    TSQA-1X8PMF 是針對 HTOL 高溫壽命測試設計的射頻子系統,支援 1700~9800 MHz 頻段與 8 通道輸出,具備高達 80 dB 隔離度、ALC 精密功率控制、CW 輸出源、遠端控制與自動測試序列功能,支援 5G 與 Wi-Fi 6E 元件測試應用。
  • MORE
    TSQA-80PME-1x1.png

    TSQA-80PME HTOL 射頻系統(80CH, 300~6000 MHz)

    TSQA-80PME 提供 80 通道射頻輸出與量測,涵蓋 300~6000 MHz 頻段,具 +40 dBm 高功率輸出、ALC 電平控制、動態諧波濾波器、自動失效管理與遠端 GUI 操作,是 HTOL 高溫壽命測試的高精度解決方案。
  • MORE
    TSQA-1X8PME-front-11.png

    TSQA-1X8PME HTOL 射頻子系統 (8CH, 300 MHz–6 GHz)

    TSQA-1X8PME 全自動 8 通道
    HTOL 射頻測試子系統

    300 MHz–6 GHz 精準功率控制,對應 5G 元件可靠度測試

     

    高溫操作壽命測試(High-temperature Operating Life Time,HTOL)是一種高強度的壓力測試,主要用來模擬元件的老化過程,並加速熱啟動的故障機制;在進行 HTOL 測試時,大量的待測物(DUT)會暴露於極端溫度以及絕對最大額定值條件下,以觀察其可靠度表現,此類測試通常在 125°C 的環境下執行,並依據 JEDEC JESD22-A108 規範進行。
     

    進行功率壓力測試與 HTOL 測試時,所需的射頻(RF)系統必須具備多通道輸出功能,且每個輸出通道都需長時間維持高精度與高穩定性的輸出功率。
     

    TSQA-1X8PME 是一款小型化自動化 HTOL 射頻測試子系統,適用頻率範圍涵蓋 300 MHz 至 6000 MHz,採用 50 ohms 技術設計,該系統提供每通道最高達 10 W 的輸出功率能力,並於每個通道中整合自動增益控制(ALC)機制,以確保長時間運作下仍能維持穩定的輸出功率;此外,TSQA-1X8PME 提供 8 個輸入通道,可即時量測並監控待測物的輸出功率。
     

    標準版本的 TSQA-1X8PME 配備內建的連續波(CW)RF 訊號源,並整合軟體平台,能夠自動化整個測試流程,適用於各類電子元件的可靠度測試,包括半導體元件、SAW/BAW 濾波器以及 LTCC(低溫共燒陶瓷,Low Temperature Cofired Ceramics)元件。
     

    憑藉其高達 6 GHz 的頻率支援範圍,TSQA-1X8PME 特別適用於針對 5G(FR1)標準元件的 HTOL 測試應用,是當前進行高頻元件可靠度驗證的理想解決方案。

     



     

    產品特點


    小型化 19 吋,3U 設計
    具備高動態範圍
    透過自動增益控制( ALC)實現極高準確度與長時間穩定性
    內建 CW 訊號源
    提供 LAN 與 USB 遠端埠介面
    具備圖形化使用者介面(GUI)
    採用最佳化功耗設計


     

    可選變體與擴充功能


    中功率輸出範圍擴充模組
    脈波調變器模組

     

    應用領域


    蜂巢式(Cellular)與無線前端元件(主動與被動)之認證與量測
    品質保證用途,適用於新設計樣品驗證與批次檢驗
    研究與開發(R&D)用途,針對高頻元件與通訊模組之壽命與穩定性驗證


     

    中功率範圍擴充

    TSQA-1X8PME 提供具備「中功率範圍擴充」的機型版本,在此版本中,輸出功率範圍擴展自 -20 dBm(10 μW)至 +40 dBm(10 W),高功率段與中功率段分別由獨立的射頻連接埠輸出。
     

    最佳化功耗設計

    系統根據所需 RF 輸出功率等級,分為三種功率等級動態調節供應電壓,應用於功率放大器模組,此機制可有效降低系統發熱量並減少冷卻需求。
     

    高通道隔離度

    HTOL 系統必須確保單一待測物故障時,不會影響其他待測物的測試結果;TSQA-1X8PME 提供通道間高達 85 dB 的隔離度,可有效防止此類干擾效應。
     

    高精度 RF 輸出穩定度

    每一輸出通道皆具備閉迴路控制機制與自動增益控制(ALC),可實現極高精度且幾乎無階段感的輸出變化,不僅保證 8 通道之間的功率對稱性與長期穩定性,亦可避免過衝現象;輸出範圍寬廣,能涵蓋多種待測物類型,可同時支援具增益之主動元件(如放大器)與低插入損耗之被動元件(如濾波器)進行 HTOL 測試。
     

    諧波抑制

    在 HTOL 測試中,應將 RF 能量集中於訊號的基頻,避免因諧波而對待測物造成額外壓力;TSQA-1X8PME 內建動態諧波抑制濾波器,能有效濾除不必要的諧波成分。
     

    高精度 RF 功率量測

    TSQA-1X8PME 系統對應每一輸出通道配置一個輸入通道,可精準量測待測物的輸出功率。
     

    可選配脈波調變器

    透過安裝脈波調變器選配模組,TSQA-1X8PME 除了可產生 CW 訊號外,亦可支援產生脈波調變訊號。
     

    外部訊號產生器輸入

    若需進行具複雜調變格式之 HTOL 測試(如 UMTS 或 LTE 訊號),TSQA-1X8PME 提供外部訊號產生器輸入埠,可連接外部產生器進行測試。
     

    最小化 RF 線纜損耗

    RF 線纜與待測物之間的損耗會直接影響系統效能;高損耗將迫使功率級補償,造成耗電與發熱增加,同時線纜的溫度與頻率特性也會降低輸出功率的準確性;TSQA-1X8PME 根據待測物擺放位置,可選擇左側或右側的 RF 輸入與輸出埠配置,以縮短線纜長度、減少損耗。
     

    靈活的控制介面

    提供 LAN 與 USB 實體遠端埠,TSQA-1X8PME 可透過圖形化使用者介面直接操作,無需額外開發應用軟體;另亦提供基於 SCPI 命令格式的 ASCII 字串通訊協定,適用於自動化測試設備應用情境。
     

    系統自我監控功能

    系統支援長期連續無人監控運行,可涵蓋數個月的測試週期,具備電流消耗、模組溫度與錯誤紀錄等自動診斷與日誌記錄功能。
     

    軟體功能

    TSQA-1X8PME 可透過圖形化介面操控所有主要參數,如操作頻率、輸出功率等;若加裝脈衝調變器模組,亦可透過圖形化介面設定脈衝寬度與週期,操作直覺、彈性高、無須額外整合工作。
     


     

    為了補償外部 RF 連接線纜所造成的損耗,TSQA-1X8PME 軟體可輸入使用之線纜類型與長度,系統將自動計算功率損耗,並將輸出功率校準至線纜末端,確保實際輸入至待測物的功率等級符合預期。
     

    測試組態設定

    TSQA-1X8PME 軟體支援設定最多 5 組不同頻率、對應之輸出功率與上下界限值,系統將於測試期間自動循環切換這些頻率組態,以實現多頻點測試自動化。
     

    自動化測試流程

    使用者可設定測試時間、頻率、輸出功率,以及允許的待測物(DUT)插入損耗或增益上下限;在測試過程中,系統會持續監控插入損耗或增益變化,並與設定之界限值比較,若超出容許範圍,系統將記錄失效事件並自動產出包含失效時間與統計結果的紀錄檔。
     

    測試狀態顯示

    於測試任一階段,軟體均可即時顯示目前的測試狀態,包括各通道之插入損耗/增益數值與失效統計資料,以便使用者掌握系統運作狀況。
     

    高通道數擴充能力

    在實際 HTOL 測試應用中,經常需同時測試 77 個 DUT;TSQA-1X8PME 支援系統堆疊擴充功能,可透過堆疊多台 TSQA-1X8PME 子系統,建構出更高通道數的 HTOL 測試架構;例如,將 10 台 TSQA-1X8PME 整合於 19 吋、42U 高的系統機架內,即可構成 80 通道的全自動 HTOL 測試系統,其設計極為小型化並優化 RF 線纜長度,方便與溫控箱配線對接。
     

    完整客製化解決方案

    奧創系統可依客戶需求,提供高通道數之 HTOL 測試系統整合型方案,確保交付即用並滿足多樣應用情境。
     

    系統架構圖


     

    效能


     

    外觀


     

    80 通道全自動 HTOL 測試系統

    10 台 TSQA-1X8PME 子系統單元整合於一座 19 吋、42U 的系統機架中,配置經過優化,可將 RF 線纜長度最小化,便於與溫控箱之線纜接口對接,實現高通道密度與空間效率兼具的 HTOL 測試架構。
     


     

    RF 規格


     

    通用規格


     

    相關產品


     

    產品型錄下載 >
     
  • MORE
    TSQA-1X80PM-1x1.png

    TSQA-1X80PM HTOL 射頻系統(80CH,20~3000 MHz)

    TSQA-1X80PM 為專為 HTOL 測試打造的 RF 自動化量測系統,支援 80 通道獨立控制,頻率範圍涵蓋 20~3000 MHz,具備高穩定功率輸出、自動補償與模組化維修設計,提升長時間壽命測試效率與穩定性。
  • MORE
    TSQA-1X16PM-1x1.png

    TSQA-1X16PM HTOL 射頻系統 (16CH, 20~3000 MHz)

    TSQA-1X16PM 提供 20~3000 MHz 頻段支援、16通道獨立輸出、高達 5W 功率、自動功率補償與插入損耗監控,整合 LAN/USB 控制與網頁操作介面,適用於高溫操作壽命(HTOL)測試、RF 元件驗證與研發用途。
  • MORE
    TSQA-80XME-1x1.png

    TSQA-80XME HTOL 射頻系統 (80CH, 300 ~6000 MHz)

    TSQA-80XME 為一款高整合射頻 HTOL 自動測試系統,支援 80CH 精密功率輸出與量測,頻段涵蓋 300–6000 MHz,內建 ALC、諧波抑制、CW/Pulse 模組與遠端控制功能,適用主被動元件長期老化應力測試。