雜訊產生器

  1. 測試與量測
  2. 產生器 Tx
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    NGX1000 可程式雜訊產生器 (3 GHz)

    NGX1000 可程式化雜訊產生器提供 10 MHz 至 3 GHz 頻率範圍內的白高斯雜訊 (AWGN) 輸出，127 dB 衰減範圍 (0.1 dB 步進)，適用於半導體、軍事、航太、通訊及醫療測試。
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    UFX7000B 可程式 AWGN 雜訊產生器 (40 GHz)

    Noisecom UFX7000B 寬頻 AWGN 雜訊產生器，具備靈活架構與高輸出功率，可控制多個衰減器與濾波器，適用於 BER 測試、GPS 測試及軍事應用。提供 7 吋觸控螢幕與遠端控制選項，滿足各種高精度測試需求。
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    RFX7000B 可程式雜訊產生器 (40 GHz)

    Noisecom RFX7000B 提供高輸出功率與精確控制，支援 127 dB 可調衰減，適用於 BER、GPS、EMI、CATV 及軍用測試；支援乙太網路遠端控制，適合機架式整合應用。
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    CNG-EbNo 高精度 SNR 雜訊產生器 (22G)

    NG-EbNo 精高精度雜訊產生器，適用於軍事、基地台通訊（Cellular）、衛星通訊測試，提供 C/N、C/No、Eb/No、C/I 多種測試模式，精確度達 ±0.2 dB，支援自動化測試與自訂配置，提升測試效率與信心。
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    J7000B 抖動雜訊產生器 (60 GHz)

    J7000B 抖動雜訊產生器可產生 Rj 隨機抖動，並支援 PCI Express、100 GigE、SATA 及 PAM-4 訊號測試，透過精確的白高斯雜訊控制，可進行 BER、抖動分析及接收器靈敏度測試，內建 7 吋觸控螢幕，支援乙太網路遠端控制，適用於自動化測試站。
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    NC6000A/8000A AWGN 雜訊產生器 (26.5GHz)

    NC6000A/NC8000A 系列 AWGN 雜訊產生器，適用於 BER 測試、訊號干擾及 CATV 測試，內建高精度白高斯雜訊源，支援 0-10 dB 衰減調整，並可客製化配置。